图书详情
书名: 空间电子仪器单粒子效应防护技术
ISBN: 978-7-118-07208-2
作 者: 王跃科[等]著
出版社: 国防工业出版社
出版日期: 2010
简 介
本书共10章，主要内容包括：空间环境、VLSI的单粒子效应、VLSI的单粒子效应故障模式与特性、单粒子效应实验与验证方法、FPGA单粒子效应故障检测与加固设计、DSP单粒子效应故障检测与加固设计、空间电子仪器平台抗单粒子效应体系结构等。